APx555 B Series & ADC Test Mode Option

APx555 B Series & ADC Test Mode Option

APx555Bはサイン波の周波数が安定した生成や、低残留歪みやコモンモードの

DCバイアスであるVBiasを生成できるADCテストモードを備えています。

まず、アナログ高性能サイン波ジェネレーターは、コンプレッサーやリミッターやアンプ、コーデック、DSPのような高性能オーディオデバイスの開発に広く訴求できるものを備えています。エンハンスドアナログジェネレーター(EAG)は低歪みのサイン波ジェネレーターと、高精度のサイン波アナライザーに加え、30ppm以下の精度を持ったサイン波周波数安定度を兼ね備えております。また、5Hzから100kHzまでの低歪みアナログサイン波バースト信号を生成したり、バランスドのチャンネル出力の極性を反転させることも可能にしています。

加えて、THD+Nは50kH以上(-2dB)で、THDは5kHz以上で(-2~-5dB)と、非常に低い残留歪みを誇っております。

次に複数のADコンバーターの複雑なテストや検証を行うにあたり、APx555BはコモンモードのDCオフセット電圧を校正し、混在したバランスドアナログオーディオ信号を生成するADCテストモードオプションを搭載しています。この機能は、オーディオコーデックやADC ICのようなDCバイアス電圧を使い、単一電源電圧や入力を操作したいデバイスをテストする際に有用となります。さらにADCテストモードは過電圧からの損傷を防ぐプラグラマブルな電圧制限も内蔵しています。

詳細をご確認する際は以下のサイトを参照願います。